Transfer-field methods for electronic noise in submicron semiconductor structures

  1. Shiktorov, P.
  2. Starikov, E.
  3. Gružinskis, V.
  4. González, T.
  5. Mateos, J.
  6. Pardo, D.
  7. Reggiani, L.
  8. Varani, L.
  9. Vaissière, J.C.
Revista:
Rivista del Nuovo Cimento

ISSN: 0393-697X

Any de publicació: 2001

Volum: 24

Número: 9

Pàgines: 1-72

Tipus: Revisió