Transfer-field methods for electronic noise in submicron semiconductor structures

  1. Shiktorov, P.
  2. Starikov, E.
  3. Gružinskis, V.
  4. González, T.
  5. Mateos, J.
  6. Pardo, D.
  7. Reggiani, L.
  8. Varani, L.
  9. Vaissière, J.C.
Zeitschrift:
Rivista del Nuovo Cimento

ISSN: 0393-697X

Datum der Publikation: 2001

Ausgabe: 24

Nummer: 9

Seiten: 1-72

Art: Rezension