Microscopic investigation of large-signal noise in semiconductor materials and devices

  1. González, T.
  2. Pérez, S.
  3. Starikov, E.
  4. Shiktorov, P.
  5. Gružinskis, V.
  6. Reggiani, L.
  7. Varani, L.
  8. Vaissière, J.C.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Año de publicación: 2003

Volumen: 5113

Páginas: 252-266

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.488959 GOOGLE SCHOLAR
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