Anomalous behavior of buried strained-Si channel heterojunction fets at low temperatures
- Gaspari, V.
- Fobelets, K.
- Velazquez-Perez, J.E.
- Hackbarth, T.
- König, U.
Actas:
Proceedings - Electrochemical Society
Año de publicación: 2004
Volumen: 7
Páginas: 313-318
Tipo: Aportación congreso