A physically based investigation of the small-signal behaviour of bulk and fully-depleted silicon-on-insulator MOSFETs for microwave applications

  1. Rengel, R.
  2. Pardo, D.
  3. Martín, M.J.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Año de publicación: 2004

Volumen: 19

Número: 5

Páginas: 634-643

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/19/5/013 GOOGLE SCHOLAR
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