Temperature dependence of submicrometer strained-Si surface channel n-type MOSFETs in DT mode

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Zeitschrift:
IEEE Electron Device Letters

ISSN: 0741-3106

Datum der Publikation: 2004

Ausgabe: 25

Nummer: 5

Seiten: 334-336

Art: Brief

DOI: 10.1109/LED.2004.827286 GOOGLE SCHOLAR
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