3D Monte Carlo study of thermal noise in DG-MOSFET
- Dollfus, P.
- Bournel, A.
- Velázquez, J.E.
ISSN: 0094-243X, 1551-7616
ISBN: 9780735402676
Année de publication: 2005
Volumen: 780
Pages: 749-752
Type: Communication dans un congrès
Actes de conférence:
AIP Conference Proceedings