3D Monte Carlo study of thermal noise in DG-MOSFET
- Dollfus, P.
- Bournel, A.
- Velázquez, J.E.
ISSN: 0094-243X, 1551-7616
ISBN: 9780735402676
Ano de publicación: 2005
Volume: 780
Páxinas: 749-752
Tipo: Achega congreso
ISSN: 0094-243X, 1551-7616
ISBN: 9780735402676
Ano de publicación: 2005
Volume: 780
Páxinas: 749-752
Tipo: Achega congreso