A Monte Carlo investigation of the RF performance of partially-depleted SOI MOSFETs

  1. Rengel, R.
  2. Martín, M.J.
  3. Dambrine, G.
  4. Danneville, F.
Zeitschrift:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Datum der Publikation: 2006

Ausgabe: 21

Nummer: 3

Seiten: 273-278

Art: Artikel

DOI: 10.1088/0268-1242/21/3/010 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus