A Monte Carlo investigation of the RF performance of partially-depleted SOI MOSFETs

  1. Rengel, R.
  2. Martín, M.J.
  3. Dambrine, G.
  4. Danneville, F.
Aldizkaria:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Argitalpen urtea: 2006

Alea: 21

Zenbakia: 3

Orrialdeak: 273-278

Mota: Artikulua

DOI: 10.1088/0268-1242/21/3/010 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus