Electronic transport and noise characterization in MoS2

  1. Pascual, E.
  2. Iglesias, J.M.
  3. Martín, M.J.
  4. Rengel, R.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 1361-6641,  0268-1242

Año de publicación: 2020

Volumen: 35

Número: 5

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/1361-6641/AB7777 GOOGLE SCHOLAR
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