Comparative analysis of current fluctuations in Si BJT's and SiGe HBT's

  1. Martin-Martinez, MJ
  2. Gonzalez, T
  3. Pardo, D
Colección de libros:
PROCEEDINGS OF THE 25TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON THE PHYSICS OF SEMICONDUCTORS, PTS I AND II
  1. Miura, N (coord.)
  2. Ando, T (coord.)

ISSN: 0930-8989,  1867-4941

ISBN: 3-540-41778-8

Año de publicación: 2001

Volumen: 87

Páginas: 1761-1762

Congreso: 25th International Conference on the Physics of Semiconductors (ICPS25)

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS