Ellipsometric characterization of random and random-dimer GaAs-AlxGa1-xAs superlattices

  1. Bellani, V.
  2. Parravicini, G.B.
  3. Diez, E.
  4. Domínguez-Adame, F.
  5. Hey, R.
Revista:
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

ISSN: 0163-1829

Año de publicación: 2002

Volumen: 66

Número: 19

Páginas: 1933101-1933103

Tipo: Artículo

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus