Spatial analysis of electronic noise in submicron semiconductor structures

  1. González, T.
  2. Pardo, D.
  3. Varani, L.
  4. Reggiani, L.
Zeitschrift:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Datum der Publikation: 1993

Ausgabe: 63

Nummer: 1

Seiten: 84-86

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.109705 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus