Spatial analysis of electronic noise in submicron semiconductor structures

  1. González, T.
  2. Pardo, D.
  3. Varani, L.
  4. Reggiani, L.
Aldizkaria:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Argitalpen urtea: 1993

Alea: 63

Zenbakia: 1

Orrialdeak: 84-86

Mota: Artikulua

DOI: 10.1063/1.109705 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus