Spatial analysis of electronic noise in submicron semiconductor structures
- González, T.
- Pardo, D.
- Varani, L.
- Reggiani, L.
ISSN: 0003-6951
Ano de publicación: 1993
Volume: 63
Número: 1
Páxinas: 84-86
Tipo: Artigo
ISSN: 0003-6951
Ano de publicación: 1993
Volume: 63
Número: 1
Páxinas: 84-86
Tipo: Artigo