A microscope interpretation of hot-electron noise in Schottky barrier diodes

  1. Gonzalez, T.
  2. Pardo, D.
  3. Varani, L.
  4. Reggiani, L.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Año de publicación: 1994

Volumen: 9

Número: 5 S

Páginas: 580-583

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/9/5S/049 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus