Influence of spatial correlations on the analysis of diffusion noise in submicron semiconductor structures

  1. Mateos, J.
  2. González, T.
  3. Pardo, D.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 1995

Volumen: 67

Páginas: 685

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.115203 GOOGLE SCHOLAR
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