Analysis of voltage noise in forward-biased silicon bipolar homojunctions: Low- and high-injection regimes

  1. Martín, M.J.
  2. Pardo, D.
  3. Velázquez, J.E.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 1997

Volumen: 71

Número: 23

Páginas: 3382-3384

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.120554 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus