Langevin forces and generalized transfer fields for noise modeling in deep submicron devices

  1. Shiktorov, P.
  2. Starikov, E.
  3. Gruzinskis, V.
  4. Gonzalez, T.
  5. Mateos, J.
  6. Pardo, D.
  7. Reggiani, L.
  8. Varani, L.
  9. Vaissière, J.C.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Any de publicació: 2000

Volum: 47

Número: 10

Pàgines: 1992-1998

Tipus: Article

DOI: 10.1109/16.870587 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus