Langevin forces and generalized transfer fields for noise modeling in deep submicron devices

  1. Shiktorov, P.
  2. Starikov, E.
  3. Gruzinskis, V.
  4. Gonzalez, T.
  5. Mateos, J.
  6. Pardo, D.
  7. Reggiani, L.
  8. Varani, L.
  9. Vaissière, J.C.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Ano de publicación: 2000

Volume: 47

Número: 10

Páxinas: 1992-1998

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/16.870587 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus