Langevin forces and generalized transfer fields for noise modeling in deep submicron devices

  1. Shiktorov, P.
  2. Starikov, E.
  3. Gruzinskis, V.
  4. Gonzalez, T.
  5. Mateos, J.
  6. Pardo, D.
  7. Reggiani, L.
  8. Varani, L.
  9. Vaissière, J.C.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Argitalpen urtea: 2000

Alea: 47

Zenbakia: 10

Orrialdeak: 1992-1998

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/16.870587 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus