Transfer-field methods for electronic noise in submicron semiconductor structures

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  7. Reggiani, L.
  8. Varani, L.
  9. Vaissière, J.C.
Revista:
Rivista del Nuovo Cimento

ISSN: 0393-697X

Año de publicación: 2001

Volumen: 24

Número: 9

Páginas: 1-72

Tipo: Revisión