RF noise in a short-channel n-MOSFET: A Monte Carlo study

  1. Rengel, R.
  2. Mateos, J.
  3. Pardo, D.
  4. González, T.
  5. Martín, M.J.
Col·lecció de llibres:
Materials Science Forum

ISSN: 0255-5476

Any de publicació: 2002

Volum: 384-385

Pàgines: 155-158

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus