RF noise in a short-channel n-MOSFET: A Monte Carlo study
- Rengel, R.
- Mateos, J.
- Pardo, D.
- González, T.
- Martín, M.J.
ISSN: 0255-5476
Année de publication: 2002
Volumen: 384-385
Pages: 155-158
Type: Communication dans un congrès
ISSN: 0255-5476
Année de publication: 2002
Volumen: 384-385
Pages: 155-158
Type: Communication dans un congrès