RF noise in a short-channel n-MOSFET: A Monte Carlo study

  1. Rengel, R.
  2. Mateos, J.
  3. Pardo, D.
  4. González, T.
  5. Martín, M.J.
Büchersammlung:
Materials Science Forum

ISSN: 0255-5476

Datum der Publikation: 2002

Ausgabe: 384-385

Seiten: 155-158

Art: Konferenz-Beitrag

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