Influence of 2D electrostatic effects on the high-frequency noise behaviour of sub-100 nm scaled MOSFETs

  1. Rengel, R.
  2. Pardo, D.
  3. Martín, M.J.
Actes:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Any de publicació: 2004

Volum: 5470

Pàgines: 96-106

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1117/12.546966 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus