Influence of 2D electrostatic effects on the high-frequency noise behaviour of sub-100 nm scaled MOSFETs
- Rengel, R.
- Pardo, D.
- Martín, M.J.
ISSN: 0277-786X
Año de publicación: 2004
Volumen: 5470
Páginas: 96-106
Tipo: Aportación congreso
ISSN: 0277-786X
Año de publicación: 2004
Volumen: 5470
Páginas: 96-106
Tipo: Aportación congreso