Impact of the scaling on the noise performance of deep-submicron Si/SiGe n-channel FETs
- Velázquez, J.E.
- Fobelets, K.
- Gaspari, V.
ISSN: 0277-786X
Any de publicació: 2004
Volum: 5470
Pàgines: 573-580
Tipus: Aportació congrés
ISSN: 0277-786X
Any de publicació: 2004
Volum: 5470
Pàgines: 573-580
Tipus: Aportació congrés