Impact of the scaling on the noise performance of deep-submicron Si/SiGe n-channel FETs
- Velázquez, J.E.
- Fobelets, K.
- Gaspari, V.
ISSN: 0277-786X
Année de publication: 2004
Volumen: 5470
Pages: 573-580
Type: Communication dans un congrès
Actes de conférence:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering