Impact of the scaling on the noise performance of deep-submicron Si/SiGe n-channel FETs
- Velázquez, J.E.
- Fobelets, K.
- Gaspari, V.
ISSN: 0277-786X
Datum der Publikation: 2004
Ausgabe: 5470
Seiten: 573-580
Art: Konferenz-Beitrag
ISSN: 0277-786X
Datum der Publikation: 2004
Ausgabe: 5470
Seiten: 573-580
Art: Konferenz-Beitrag