Effect of temperature on the transfer characteristic of a 0.5 μm-gate Si:SiGe depletion-mode n-MODFET

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Revista:
Applied Surface Science

ISSN: 0169-4332

Año de publicación: 2004

Volumen: 224

Número: 1-4

Páginas: 390-393

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1016/J.APSUSC.2003.08.066 GOOGLE SCHOLAR
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