DC performance of deep submicrometer Schottky-gated n-channel Si:SiGe HFETs at low temperatures
- Gaspari, V.
- Fobelets, K.
- Velazquez-Perez, J.E.
- Hackbarth, T.
ISSN: 0018-9383
Ano de publicación: 2005
Volume: 52
Número: 9
Páxinas: 2067-2074
Tipo: Artigo