3D Monte Carlo study of thermal noise in DG-MOSFET

  1. Dollfus, P.
  2. Bournel, A.
  3. Velázquez, J.E.
Actas:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 0094-243X,  1551-7616

ISBN: 9780735402676

Año de publicación: 2005

Volumen: 780

Páginas: 749-752

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1063/1.2036858 GOOGLE SCHOLAR
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