A Deep Learning-Monte Carlo Combined Prediction of Side-Effect Impact Ionization in Highly Doped GaN Diodes
ISSN: 1557-9646, 0018-9383
Any de publicació: 2023
Volum: 70
Número: 6
Pàgines: 2981-2987
Tipus: Article
ISSN: 1557-9646, 0018-9383
Any de publicació: 2023
Volum: 70
Número: 6
Pàgines: 2981-2987
Tipus: Article