A Deep Learning-Monte Carlo Combined Prediction of Side-Effect Impact Ionization in Highly Doped GaN Diodes
ISSN: 1557-9646, 0018-9383
Ano de publicación: 2023
Volume: 70
Número: 6
Páxinas: 2981-2987
Tipo: Artigo
ISSN: 1557-9646, 0018-9383
Ano de publicación: 2023
Volume: 70
Número: 6
Páxinas: 2981-2987
Tipo: Artigo