5 kV multielectron beam lithography: MAPPER tool and resist process characterization
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- Constancias, C.
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- Icard, B.
- Van Nieuwstadt, J.
- Vijverberg, J.
- Pain, L.
ISSN: 2166-2754, 2166-2746
Año de publicación: 2010
Volumen: 28
Número: 6
Tipo: Artículo