Spatial analysis of electronic noise in submicron semiconductor structures

  1. González, T.
  2. Pardo, D.
  3. Varani, L.
  4. Reggiani, L.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 1993

Volumen: 63

Número: 1

Páginas: 84-86

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.109705 GOOGLE SCHOLAR
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