Langevin forces and generalized transfer fields for noise modeling in deep submicron devices

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Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Año de publicación: 2000

Volumen: 47

Número: 10

Páginas: 1992-1998

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/16.870587 GOOGLE SCHOLAR
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