Monte Carlo analysis of voltage noise in sub-micrometre semiconductor structures under large-signal regime

  1. Pérez, S.
  2. González, T.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Any de publicació: 2002

Volum: 17

Número: 7

Pàgines: 696-700

Tipus: Article

DOI: 10.1088/0268-1242/17/7/311 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus