Monte Carlo analysis of voltage noise in sub-micrometre semiconductor structures under large-signal regime

  1. Pérez, S.
  2. González, T.
Zeitschrift:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Datum der Publikation: 2002

Ausgabe: 17

Nummer: 7

Seiten: 696-700

Art: Artikel

DOI: 10.1088/0268-1242/17/7/311 GOOGLE SCHOLAR
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