RF noise in a short-channel n-MOSFET: A Monte Carlo study
- Rengel, R.
- Mateos, J.
- Pardo, D.
- González, T.
- Martín, M.J.
ISSN: 0255-5476
Año de publicación: 2002
Volumen: 384-385
Páginas: 155-158
Tipo: Aportación congreso
Colección de libros:
Materials Science Forum