Influence of 2D electrostatic effects on the high-frequency noise behaviour of sub-100 nm scaled MOSFETs

  1. Rengel, R.
  2. Pardo, D.
  3. Martín, M.J.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Año de publicación: 2004

Volumen: 5470

Páginas: 96-106

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.546966 GOOGLE SCHOLAR
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