Impact of the scaling on the noise performance of deep-submicron Si/SiGe n-channel FETs

  1. Velázquez, J.E.
  2. Fobelets, K.
  3. Gaspari, V.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Año de publicación: 2004

Volumen: 5470

Páginas: 573-580

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.548536 GOOGLE SCHOLAR
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