On the high-frequency noise figures of merit and microscopic channel noise sources in fabricated 90 nm PD SOI MOSFETs

  1. Rengel, R.
  2. Martín, M.J.
  3. Pailloncy, G.
  4. Dambrine, G.
  5. Danneville, F.
Konferenzberichte:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 0094-243X,  1551-7616

ISBN: 9780735402676

Datum der Publikation: 2005

Ausgabe: 780

Seiten: 745-748

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1063/1.2036857 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus