On the high-frequency noise figures of merit and microscopic channel noise sources in fabricated 90 nm PD SOI MOSFETs

  1. Rengel, R.
  2. Martín, M.J.
  3. Pailloncy, G.
  4. Dambrine, G.
  5. Danneville, F.
Aktak:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 0094-243X,  1551-7616

ISBN: 9780735402676

Argitalpen urtea: 2005

Alea: 780

Orrialdeak: 745-748

Mota: Biltzar ekarpena

DOI: 10.1063/1.2036857 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus