On the high-frequency noise figures of merit and microscopic channel noise sources in fabricated 90 nm PD SOI MOSFETs

  1. Rengel, R.
  2. Martín, M.J.
  3. Pailloncy, G.
  4. Dambrine, G.
  5. Danneville, F.
Actes de conférence:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 0094-243X,  1551-7616

ISBN: 9780735402676

Année de publication: 2005

Volumen: 780

Pages: 745-748

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1063/1.2036857 GOOGLE SCHOLAR
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