Quasiballistic transport in nanometer Si metal-oxide-semiconductor field-effect transistors: Experimental and Monte Carlo analysis

  1. Łusakowski, J.
  2. Martínez, M.J.M.
  3. Rengel, R.
  4. González, T.
  5. Tauk, R.
  6. Meziani, Y.M.
  7. Knap, W.
  8. Boeuf, F.
  9. Skotnicki, T.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 2007

Volumen: 101

Número: 11

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.2739307 GOOGLE SCHOLAR