Microscopic modeling of RF noise in laterally asymmetric channel MOSFETs
- Rengel, R.
- Martín, M.J.
- Danneville, F.
ISSN: 0741-3106
Année de publication: 2011
Volumen: 32
Número: 1
Pages: 72-74
Type: Communication dans un congrès
ISSN: 0741-3106
Année de publication: 2011
Volumen: 32
Número: 1
Pages: 72-74
Type: Communication dans un congrès