Numerical and experimental analysis of the static characteristics and noise in ungated recessed MESFET structures

  1. Mateos, J.
  2. González, T.
  3. Pardo, D.
  4. Tadyszak, P.
  5. Danneville, F.
  6. Cappy, A.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Any de publicació: 1996

Volum: 39

Número: 11

Pàgines: 1629-1636

Tipus: Article

DOI: 10.1016/0038-1101(96)00083-4 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus